Photo CONTROLEUR ELECTRIQUE MULTIFONCTIONS (TE | Ref : MW9655

YOUR ESSSENTIALS CONTROLEUR ELECTRIQUE MULTIFONCTIONS (TE REF : MW9655

Description

mémoire de valeur mesurée Oui Affichage graphique mesure de faible résistance Oui mesure de mise à...

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Vendu par pièce

Détails du produit : CONTROLEUR ELECTRIQUE MULTIFONCTIONS (TE

mémoire de valeur mesurée Oui
Affichage graphique
mesure de faible résistance Oui
mesure de mise à la terre Oui
interface Oui
mesure de la résistance d'isolation Oui
mesure de la résistance de boucle/de l'impédance Oui
mesure de la résistance interne du secteur Oui
essais RCD/FI Oui
forme d'onde lors d'essais RCD/FI pour disjoncteur différentiel type A, F et type B, B+
essais de champ tournant Oui
mesure sélective de mise à la terre Oui
mesure de boucle de mise à la terre Oui
mesure spécifique de mise à la terre Oui
affichage de la valeur limite Oui
fonction d'analyse RCD/FI Oui
détection du courant de court-circuit / surintensité de courant Oui
mesure de la boucle sans déclenchement RCD/FI Oui
essais PRCD type S, type K Oui
mesure des courants de fuite avec adaptateur Oui
mémoire de valeurs mesurées structurée Oui

Caractéristiques du produit : YOUR ESSSENTIALS | Réf : MW9655

indication Graphique
affichage de la valeur limite Oui
mesure de la résistance d'isolation Oui
mesure de faible résistance Oui
mesure de mise à la terre Oui
mesure sélective de mise à la terre Oui
mesure de boucle de mise à la terre Oui
mesure spécifique de mise à la terre Oui
mesure de la résistance de boucle/de l'impédance Oui
mesure de la boucle sans déclenchement RCD/FI Oui
mesure de la résistance interne du secteur Oui
détection du courant de court-circuit / surintensité de courant Oui
essais RCD/FI Oui
forme d'onde lors d'essais RCD/FI Pour disjoncteur différentiel type A. F et type B. B+
essais RCD/FI avec courant de défaut en augmentation Oui
fonction d'analyse RCD/FI Oui
essais PRCD type S, type K Oui
essais IMD et RCM Oui
mesure des courants de fuite avec adaptateur Oui
essais de champ tournant Oui
mémoire de valeurs mesurées structurée Oui
affichage Graphique
interface Oui